EN|RU

Том 15, номер 2, 2008 г., Стр. 3-11

УДК 519.95
С. Р. Беджанова
О минимальных тестах для схем, реализующих дизъюнкцию

Аннотация:
Исследуются тесты для схем из функциональных элементов, реализующих дизъюнкцию $n$ переменных. В качестве неисправностей рассматриваются инверсные неисправности: на входах схем, на входах элементов схем и на выходах элементов схем. В первом случае для тестов функции установлено, что длина минимального полного проверяющего теста равна единице, длина минимального единичного диагностического теста равна $n$, а длина минимального полного диагностического теста равна $2^n-1$. Во втором и третьем случаях найдены минимальные единичные тесты для схем в базисах $ \{x\vee y\}$ и $\{\overline x, x\to y\}$. Оказалось, что для обоих базисов при неисправностях на выходах элементов минимальные единичные диагностические тесты содержат по два набора, а во всех остальных случаях минимальные единичные тесты содержат по одному набору.
Библ. 4.

С. Р. Беджанова 1
1. МГУ, мех.-мат. факультет,
Воробьёвы горы, 119992 Москва, Россия
е-mail: azjnja@mail.ru

Статья поступила 30 января 2008 г.

 © Институт математики им. С. Л. Соболева, 2015